Омский НИИ приборостроения (входит в холдинг «Росэл» Госкорпорации Ростех) станет одним из организаторов IV Международной научной конференции «Радиофизика, фотоника и исследование свойств вещества» (РФИВ-2026). Мероприятие пройдёт с 6 по 8 октября в Омске, оно впервые получило статус международного.
Конференция охватывает широкий круг тем: физика излучения, распространение радиоволн, исследование ионосферы, дистанционное зондирование Земли, фотоника и функциональная электроника. В программе — пленарное заседание и четыре тематические секции. К участию приглашаются учёные, представители промышленности, аспиранты и студенты.
Смена статуса со всероссийского на международный продиктована растущим интересом к заявленным направлениям со стороны научного сообщества ближнего зарубежья. Программный комитет рассчитывает, что расширение географии участников усилит интеграцию исследователей и повысит практическую отдачу от обмена результатами.
«Для нашего института эта конференция — не просто научное мероприятие, а прямой мост между фундаментальными исследованиями и прикладными разработками. Мы видим, как темы, которые обсуждались на предыдущих конференциях, через год-два превращаются в технические решения для наших изделий. Международный статус даст дополнительный импульс этому процессу», — отметил представитель АО «ОНИИП».
Организаторами РФИВ-2026 выступают Институт радиофизики и физической электроники ОНЦ СО РАН и ОНИИП совместно с Омским государственным педагогическим университетом и Омским государственным университетом им. Ф.М. Достоевского. Электронная регистрация откроется 1 июня на официальном сайте АО «ОНИИП». Тезисы докладов с экспертным заключением о возможности открытой публикации принимаются по адресу conf@oniip.ru с темой письма «РФИВ-2026». Участие бесплатное, по итогам будет издан электронный сборник докладов.
Конференция откроется 6 октября в Омском научном центре СО РАН. Формат традиционно сочетает официальную программу с возможностью неформального профессионального общения за пределами секционных заседаний.
